英语缩略词“FA”经常作为“Force Analyzer”的缩写来使用,中文表示:“力分析器”。本文将详细介绍英语缩写词FA所代表英文单词,其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外,还有关于缩略词FA的分类、应用领域及相关应用示例等。
以上为Force Analyzer的英文缩略词FA的中文解释,以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。
Transmission electron microscope ( TEM ), atomic force microscope ( AFM ), laser particles size analyzer, X-ray diffractometer ( XRD ) and vibrating samples magnetometer ( VSM ) were used to characterize the size distribution, crystal phase and magnetic property of the particles.
利用透射电镜、原子力显微镜、激光粒度分析仪、X射线衍射仪、振动磁强计等对样品的粒度分布、晶相和磁性能进行表征。
Physical and chemical properties of magnetic fluoresce nano-particles were characterized by infrared spectroscopy, atomic force microscopy, transmission electron microscopy, vibrating sample magnetometer and BET surface area analyzer.
利用红外光谱、原子力显微镜、透射电镜、振动样品磁强计、BET比表面分析仪对磁性荧光纳米粒子的理化性质进行表征。
上述内容是“Force Analyzer”作为“FA”的缩写,解释为“力分析器”时的信息,以及英语缩略词FA所代表的英文单词,其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。
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