“KFM”是“Kelvin Force Microscopy”的缩写，意思是“开尔文力显微镜”

英语缩略词“KFM”经常作为“Kelvin Force Microscopy”的缩写来使用，中文表示：“开尔文力显微镜”。本文将详细介绍英语缩写词KFM所代表英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外，还有关于缩略词KFM的分类、应用领域及相关应用示例等。

“KFM”（ 开尔文力显微镜 ）释义

• 英文缩写词：KFM
• 英文单词：Kelvin Force Microscopy
• 缩写词中文简要解释：开尔文力显微镜
• 中文拼音：kāi ěr wén lì xiǎn wēi jìng
• 缩写词流行度：289
• 缩写词分类：Miscellaneous
• 缩写词领域：Unclassified

以上为Kelvin Force Microscopy的英文缩略词KFM的中文解释，以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。

英文缩略词KFM的扩展资料

The contact potential difference ( CPD ) at the boundary of the electrode and substrate in ZnO film is measured using Kelvin probe force microscopy ( KFM ) and the relationship between measured CPD and scanning speed is studied.
本文利用开尔文力显微镜(KFM)观测了ZnO薄膜上ZnO/Si台阶处的接触电势差，研究了扫描速度对接触电势差检测的影响，并分析了造成这种影响的原因。

Kelvin Probe Force Microscopy for Contact Potential Difference Measurement of ZnO Film
开尔文力显微镜(KFM)检测ZnO薄膜的接触电势差

上述内容是“Kelvin Force Microscopy”作为“KFM”的缩写，解释为“开尔文力显微镜”时的信息，以及英语缩略词KFM所代表的英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。